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ZEISS?METROTOM
發(fā)表于2020/3/3 15:04:08
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用于質量保證的三維 X 射線測量技術
ZEISS METROTOM
基于蔡司METROTOM 的工業(yè)計算機斷層掃描（CT）
利用蔡司的工業(yè)計算機斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次 X 射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗。標準的驗收檢測、精密工程和完善的校準程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導軌及轉臺，滿足客戶對精確性的高要求。
第三代新款蔡司METROTOM 1500
面向未來的質量控制——今天
十二年來，蔡司METROTOM系列一直為質量控制提供可靠的CT技術。第三代計算機斷層掃描（CT）系統(tǒng)蔡司METROTOM 1500極好地證明了先進可靠的X射線技術不再是未來的愿景。今天，您可以使用面向未來的質量控制。
蔡司METROTOM 1500（第2代與第3代）中鋁制部件的圖像比較。由于體素尺寸較小，新的3K檢測器可以以更高分辨率清晰顯示更小的細節(jié)。
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在第三代系統(tǒng)中，新的3k檢測器可生成更高分辨率的3D體數(shù)據(jù)集，即更多體素可以檢測到更小的缺陷。
蔡司METROTOM 1500（第2代與第3代）中鋁制部件的圖像比較。由于體素尺寸較小，新的3K檢測器可以以更高分辨率清晰顯示更小的細節(jié)。
掃描更快
通過檢測器的不同操作模式，掃描時間可減少多達75％，同時獲得與2k檢測器相當?shù)捏w素尺寸。
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