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多種檢測維度,讓電池基礎(chǔ)研發(fā)走得更遠、更深

蔡司工業(yè)質(zhì)量 發(fā)表于2023/9/5 10:38:03 蔡司電池檢測原位多角度分析

不少電池企業(yè)都為新品起了性感的名字,如“4680”、“頂流”、”M3P”、“短刀”、“凝聚態(tài)”,意在打造讓從主機廠到C端用戶均耳熟能詳?shù)挠洃淈c。

而追根溯源,創(chuàng)造具有差異化的電池,不僅需要基礎(chǔ)研發(fā)人員對材料的極致探索和大膽想象,還需要能夠精準(zhǔn)剖析微觀機制的工具。

一、優(yōu)秀的電池,離不開更高效的工具

電池企業(yè)都想在“性能”、“安全性”、“成本”等關(guān)鍵因素上表現(xiàn)優(yōu)異,這就需要超過同行的質(zhì)量控制手段。首先就要在研發(fā)環(huán)節(jié),充分了解和控制電池相關(guān)材料的特性,選擇良好的材料。

材料從根本上決定著電池性能。通過改進材料提高電池性能、優(yōu)化電池老化機制、應(yīng)用新型材料、改變電芯結(jié)構(gòu)是電芯研發(fā)的主要方向。而且,往往多策并舉,促成電池的升級和創(chuàng)新。

材料體系方面,采用高鎳正極、硅基負極、鋰金屬負極等新型材料體系,提高單體能量密度;或者研制出磷酸錳鐵鋰,探索鈉離子電池的商業(yè)化應(yīng)用,降低成本;或者加快固態(tài)電池的研發(fā)進程,使電池性能更高,更耐久。

電芯形狀方面,方形電池,尤其是LFP短刀兼顧性能、集成與制造,成為主流企業(yè)的優(yōu)選方案之一;大圓柱電池也是熱門方向,特斯拉和寶馬均已提出具體的實施規(guī)劃。

快充技術(shù)方面,多家主機廠聯(lián)合電池企業(yè)推出2C~4C快充方案。這就需要電池企業(yè)從電池材料(尤其是負極材料的選擇和微觀結(jié)構(gòu)的設(shè)計)、電極設(shè)計等出發(fā),降低內(nèi)阻、加強散熱,提高電池的倍率性能。

▲ 動力電池的技術(shù)趨勢 來源:《纖毫畢現(xiàn),追根溯源–探索電池高效生產(chǎn) 打造高品質(zhì)電池的奧秘》白皮書

正所謂“工欲善其事,必先利其器”,更優(yōu)秀的動力電池產(chǎn)品離不開更高效有力的檢測工具。

材料的微觀結(jié)構(gòu)表征是電芯研發(fā)的關(guān)鍵,目前多種材料表征方法被推出并得到廣泛應(yīng)用。

在研發(fā)環(huán)節(jié),工程師利用光學(xué)顯微鏡、X 射線顯微鏡、3D 檢測來觀察電極材料,檢測電極缺陷并分析電池失效原理。還可觀察材料的粒徑尺寸、各種成分的配比及分布情況等,加深研發(fā)人員的認識和理解。這些都可以在提高研發(fā)效率的同時更好的改善電池性能,進而為材料、工藝的改進提供依據(jù)。

二、電池材料的二維顯微成像和表征

光學(xué)顯微鏡,起源于17世紀(jì),借助可見光的波長放大物體,實現(xiàn)了微米級分辨率,廣泛用于生命科學(xué)、材料科學(xué)等。在電池領(lǐng)域,它能觀察電極結(jié)構(gòu)、檢測電極缺陷和鋰枝晶的生長,為電池研發(fā)提供寶貴數(shù)據(jù)。但受限于可見光的波長,其觀測范圍有限,而電子顯微鏡則很好的解決了這個問題。

電子顯微鏡于1931年問世,使用電子束放大物體,最大可放大高達300萬倍,達到納米級分辨率。由于電子顯微鏡具備更高的分辨率,在電池研發(fā)中,搭配不同的探頭,可以得到多維度的信息(成分、表征信息,粒度尺寸,配料占比等),實現(xiàn)對正負極材料、導(dǎo)電劑、粘結(jié)劑及隔膜等更微觀結(jié)構(gòu)的檢測(觀察材料的形貌、分布狀態(tài)、粒徑大小、存在的缺陷等)。

▲ 電池正負極材料、導(dǎo)電劑、粘結(jié)劑、隔膜SEM圖 來源:蔡司(使用蔡司電子顯微鏡測試)

由于具備高分辨率,掃描電子顯微鏡(SEM) 能清楚地反映和記錄材料的表面形貌特征,因此成為表征材料形貌最為便捷的手段之一。

三、電池檢測:從2D到3D

盡管2D平面檢測簡單且有效,但有時可能會出現(xiàn)偏差。3D成像為研發(fā)人員提供了更為直觀的檢測結(jié)果,提高了電池的研發(fā)效率和性能。

其中,X射線顯微鏡技術(shù)如蔡司的Xradia Versa系列,可以實現(xiàn)電池內(nèi)部的高分辨率3D無損成像,分辨電極顆粒與孔隙、隔膜與空氣等,可以大大簡化流程,節(jié)省時間。

▲ 電池內(nèi)部高分辨率成像(掃描完整樣品 - 選擇感興趣區(qū)域 - 放大并進行高分辨率成像)來源:蔡司(使用蔡司 Xradia Versa 系列 X 射線顯微鏡測試)

在此基礎(chǔ)上,蔡司推出的4D微觀結(jié)構(gòu)演化表征方法,可以獲得更多信息,提供更微小的細節(jié)特征。

當(dāng)需要進一步高分辨率分析時,新一代聚焦離子束(FIB)技術(shù)成為首選。FIB結(jié)合SEM,允許樣品在納米級別進行精細加工和觀察。蔡司和賽默飛均已推出相關(guān)顯微鏡產(chǎn)品。

四、電池的原位測試和多技術(shù)關(guān)聯(lián)應(yīng)用

一種檢測手段常常無法完全表征材料屬性。所以,行業(yè)將不同的測試設(shè)備協(xié)同應(yīng)用,實現(xiàn)多手段的關(guān)聯(lián),則可以在測試中得到多維度的信息,使結(jié)果更為直觀。

早期,多手段關(guān)聯(lián)的出發(fā)點,是以不同分辨率來觀察被測對象的需求。利用 CT→X 射線顯微鏡→ FIB-SEM,選定區(qū)域并逐級放大,就可以得到更為全面和精確的信息,同時可以實現(xiàn)快速定位,使檢測更為高效。

▲ 正極材料的多尺度關(guān)聯(lián)分析 來源:蔡司(使用蔡司 Xradia Versa、Ultra、FIB-SEM 系列產(chǎn)品多尺度關(guān)聯(lián)測試)

為了實現(xiàn)原位多角度分析,如德國 WITec、捷克 Tescan、蔡司等推出了 RISE 系統(tǒng),實現(xiàn)拉曼成像與 SEM 等技術(shù)的聯(lián)合應(yīng)用,通過電池表面形貌(SEM)、元素分布(EDS)與電極材料分子組成信息(Raman 圖譜)結(jié)合。

材料測試通常伴隨制樣過程,由于 FIB-SEM 需要對同一個樣品進行多次制樣測試來構(gòu)建 3D 圖像,采用常規(guī)制樣方法需要消耗很長時間。為解決這個問題,蔡司提出了一組非常巧妙的聯(lián)合方案。更多精彩內(nèi)容,請查閱《纖毫畢現(xiàn),追根溯源 – 探索電池高效生產(chǎn) 打造高品質(zhì)電池的奧秘》白皮書。

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